镀金端子工艺站
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测试

测试聚焦选择性镀金与局部加厚工艺,下面按技术视角整理相关资料。

镀层边界宽度的检测方法与精度

金锡边界宽度用金相切片或SEM测,精度±0.05mm;激光边界可达±20μm,验收看宽度与过渡是否连续无硬阶。

接触电阻怎么测才准与判据

接触电阻用四线法在标称电流下测,取稳定值;判据看初始值与寿命后漂移,通常要求≤20mΩ且漂移小。

金厚测量:XRF与金相法怎么选

薄层在线抽检用XRF快且不破坏,仲裁与看分布用金相法;XRF需校准基材,金相要垂直切片避免斜切虚厚。

镀金端子工艺站

聚焦选择性镀金与局部加厚工艺的技术内容平台,覆盖接触区局部镀金、掩膜选择性电镀、飞激光边界控制、金锡渐变镀层与冠簧双梁接触点加厚等方向。

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